1.描述

雖然加速壽命測(cè)試 HALT ( highly Accelerated Life Test)不僅在相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)里未提及到，就連在MLCC 廠家規(guī)格書里也從未提及到，但是它確實(shí)是一個(gè)很重要的測(cè)試，被大多數(shù) MLCC 廠家采用。它的理論基礎(chǔ)是來(lái)自一個(gè)針對(duì) MLCC 陶瓷介質(zhì)發(fā)生失效的平均間隔時(shí)間(MTBF)跟所加載的電壓和所處的溫度關(guān)系的研究。關(guān)于加速壽命測(cè)試?yán)碚撜?qǐng)參照本書第 10.2 節(jié)。針對(duì) MLCC 來(lái)說(shuō)，壽命測(cè)試是指測(cè)試溫度為該規(guī)格的上限類別溫度，測(cè)試電壓為該規(guī)格的 2倍的額定電壓(視具體規(guī)格而定，有些規(guī)格是 1.5 倍或 1.2 倍)，貼片電容識(shí)別及型號(hào)，貼片電容尺寸規(guī)格表，貼片電容電壓，參數(shù)，封裝測(cè)試時(shí)間為 1000h。1000h 也就是40多天，這么長(zhǎng)的測(cè)試周期對(duì)規(guī)格承認(rèn)及樣品測(cè)試都是極大的挑戰(zhàn)，因而就有國(guó)外的專家提出了加速壽命測(cè)試，測(cè)試效果跟普通 1 000h 壽命測(cè)試效果一樣，但測(cè)試時(shí)間可以縮短到 3 天以內(nèi)，其主要方法是把測(cè)試溫度和測(cè)試電壓加嚴(yán)，從而減少了測(cè)試時(shí)間。關(guān)注電容領(lǐng)域，專業(yè)知識(shí)分享，提供穩(wěn)定、可靠的電容檢測(cè)服務(wù)，賦能中國(guó)制造業(yè)升級(jí)！ 電容檢測(cè)+V:18676748747。根據(jù)應(yīng)用經(jīng)驗(yàn)，判定某規(guī)格 MLCC 的額定電壓是否正確的方法采用加速壽命測(cè)試結(jié)果來(lái)反推比較準(zhǔn)確，比做耐壓測(cè)試和擊穿電壓測(cè)試更可靠

2.壽命測(cè)試和加速壽命測(cè)試條件

3.壽命測(cè)試和加速壽命測(cè)試判定標(biāo)準(zhǔn)

1000h 的普通壽命測(cè)試判定標(biāo)準(zhǔn): 在最初的 h 內(nèi)不能有失效，100 顆樣品經(jīng)過(guò) 1000h 測(cè)試后失效數(shù)不大于 1。在電容器性能評(píng)估方面，乃棠擁有豐富的經(jīng)驗(yàn)，可以幫助您評(píng)估和改進(jìn)電容器的性能。

加速壽命測(cè)試判定標(biāo)準(zhǔn):在最初的 1h 內(nèi)不能有失效，55 顆樣品經(jīng)過(guò) 48h 測(cè)試后，失效數(shù)不大于6。想要了解電容測(cè)量?jī)x器的選擇？乃棠提供專業(yè)的電容儀器和設(shè)備，以滿足各種測(cè)量需求。