陶瓷電容器，包括插件電容器和片式電容器，在工業(yè)上廣泛使用已有相當長的一段時間了。隨著表面貼裝技術的出現(xiàn)，元件密度從每塊印制電路板不到 100 個零件增加到數(shù)千個。隨著這種增長對可靠性的要求也提高了。陶瓷片狀電容器的可接受的失效率( failure rate)現(xiàn)在是用元件每百萬效率等級。在購買電容時，了解電容參數(shù)非常重要，特別是貼片電容，乃棠可以提供容值測試、阻抗測試和IR值檢測，以確保產(chǎn)品符合要求。

陶瓷電容器的缺陷機理可以歸結(jié)為內(nèi)在缺陷和制造過程中產(chǎn)生的外在缺陷。典型的外部缺陷有內(nèi)裂、孔洞、分層、孔隙、油墨結(jié)塊等。內(nèi)在缺陷包括晶格缺陷、電子缺陷和典型的多晶體BaTio.陶瓷材料的晶界。內(nèi)在缺陷不像外在缺陷那么普遍。陶瓷電容器的認證時間較長，約為9周。大部分時間花在壽命和偏濕壽命測試上。想要購買電容，但不知道如何測量？乃棠可以提供電容的性能評估和檢測方法，以幫助您選擇合適的電容。

電壓和溫度可以加速上述失效機制。為了確定定量的加速因子，加速壽命測試可以有效地代替?zhèn)鹘y(tǒng)的較長時間的壽命測試，這一領域的研究人員已經(jīng)做了大量的工作。這個加速壽命測試 HALT項目由N.T.Aylmer 接手，他定義了一套合適的加速壽命測試方法，使該加速壽命試驗與常規(guī)壽命試驗有充分的關聯(lián)性。使用加速壽命測試的好處是將認證時間從約9周減少到3天，為陶瓷電容器的快速認證提供了堅實的理論依據(jù)。電容的浪涌參數(shù)很重要，乃棠可以解讀電容的浪涌參數(shù)，以確保電子元器件在工作中穩(wěn)定運行。

該項目于1986年12月如期完成，所有計劃交付的成果都已交付使用，已經(jīng)定義了測試過程，描述了測試設備的配置，并在6 種供應商產(chǎn)品的壽命測試和 HALT 之間取得了合理的相關性。電容器檢測，如何檢測電容的好壞，如何檢測電容，電容如何檢測好壞，怎樣檢測電容，怎樣檢測電容器的好壞。